Aparatura badawcza

	Aparatura do pomiarów własności termoelektrycznych materiałów LSR-4/800 S
	Automatyczny analizator powierzchni właściwej z układem próżniowym
	Spektrofotometr skanujący UV-Vis Thermo Fisher Scientific Evolution 220
	Spektroskop FTiR (MIR/FIR) PerkinElmer Frontier
	System ultrawysokiej próżni z mikroskopem AFM/STM, spektrometrem XPS oraz napylarką magnetronową
	Laserowy mikroskop konfokalny 3D Olympus Lext OLS4000
	Aparatura do pomiaru właściwości transportu ładunku w ciałach stałych
	Dylatometr NETZSCH DIL 402 PC
	Nanotwardościomierz TTX NHT2 CSM
	Termo-mikrowaga NETZSCH TG 209 F3 Tarsus®
	Analizator termiczny NETZSCH STA 449 F1 Jupiter® sprzężony z kwadrupolowym spektrometrem masowym NETZSCH 403 C Aëolos®
	Skaningowy mikroskop z sondą efektu Halla
	Piec łukowy Edmund Bühler GmbH MAM-1
	Aparatura do pomiarów własności fizycznych materiałów (PPMS) Quantum Design
	Mikroskop AFM/STM NTEGRA Aura NT-MDT
	Mikroskop SEM FEI Quanta FEG 250
	Dyfraktometr rentgenowski X’Pert PRO (MPD) PANalytical
	Spektrometr impedancyjny Novocontrol Alpha-A
	System do osadzania pojedynczych warstw atomowych Beneq TFS 200
	Aparatura do nanoszenia cienkich warstw metodą PVD Nano 36, Kurt J. Lesker